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冠层图像分析仪处理技术及工艺

2018-08-08 浏览次数:499

   冠层图像分析仪处理技术及工艺
   冠层图像分析仪广泛适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、植物群体对比与发展的研究与教学中农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析。能测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数,叶面积指数和叶片平均倾角等。
   冠层图像分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律,在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下,采用半理论半经验的公式,通过冠层孔隙率的测定,计算出冠层结构参数。冠层图像分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法。
   冠层图像分析仪非破坏性地测定冠层结构;可以测量冠层内外的光合有效辐射;手持式万向接头自动水平调整探头,随身携带的笔记本计算机可以帮助你正确选点取样,即时决定图像的取舍,由计算机电池提供电源其轻便、便于观测,尤其适合完成野外繁重的观测任务。
   冠层图像分析仪可以任意定义图像分析区域(天顶角可分10区,方位角可分10区)。对不同方向的冠层进行区域性分析时,可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠层部分(如缺株、边行问题等)。对不同天顶角起始角和终止角的选择,可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件,通过USB接口直接将测点图像显示在计算机上,可以在野外即时观察图像,选择合理的测点,将图像存贮。
   冠层图像分析仪半球图象上可以设计任何地点、任何时间的太阳视运动轨迹,以及冠层内任意时刻的受光状况。冠层图像分析仪是一种植被生长可视化监测系统,尤其适用于植被生长初期,植被空间分布非常稀疏的情况。在植被的情况下,仪器在冠层下部很难扑捉到准确的冠层透过率,利用冠层透射原理来测量叶面积指数变得非常困难。
   但是,冠层在太阳直射光照射下,会投下非常明显的阴影,阴影面积比与冠层叶面积指数之间具有直接的关系。利用这种关系可以计算叶面积指数,植被覆盖度,植被叶倾角分布函数。冠层图像分析仪由部署在野外的无线成像传感器以及无线图像采集与传输系统组成。 
 
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